Standardization in the field of microbeam analysis (measurement, parameters, methods and reference materials) which uses electrons as an incident beam and electrons and photons as the detection signal.


The purpose is to analyze the compositional and structural characteristics of solid materials. The volume of analysis will generally involve a depth up to 10 micrometers and a surface area less than 100 square micrometers.

Enlaces rápidos

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Este comité contribuye con 4 normas al siguiente Objetivo de Desarrollo Sostenible:


Normas ISO publicadas *

de las cuales 9 bajo la responsabilidad directa de ISO/TC 202


Normas ISO en desarrollo *

Miembros participantes
Miembros observadores

* la cifra incluye las actualizaciones

Referencia Título Tipo
ISO/TC 202/SC 1 Terminology Subcomité
ISO/TC 202/SC 2 Electron probe microanalysis Subcomité
ISO/TC 202/SC 3 Analytical electron microscopy Subcomité
ISO/TC 202/SC 4 Scanning electron microscopy Subcomité
ISO/TC 202/AG   Future Directions in Microbeam Analysis Grupo de trabajo
Comités de enlace a ISO/TC 202

Los comités que aparecen a continuación pueden acceder a los documentos de ISO/TC 202:

Referencia Título ISO/IEC
ISO/TC 201 Surface chemical analysis ISO
ISO/TC 201/SC 10 X-ray Reflectometry (XRR) and X-ray Fluorescence (XRF) Analysis ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO


Comités de enlace de ISO/TC 202

ISO/TC 202 pueden acceder a los documentos de los comités que aparecen a continuación:

Referencia Título ISO/IEC
ISO/TC 201 Surface chemical analysis ISO
ISO/TC 229 Nanotechnologies ISO


Organizaciones de enlace (categorías A y B)
Sigla Título Categoría
EMAS European Microbeam Analysis Society A
VAMAS Versailles Project on Advanced Materials and Standards A

ISO/TC 202 - Secretaría

SAC [China]

Institute of Chemistry
Bei Yi Jie 2#, ZhongGuanCun
Beijing 100190

Tel: +86 10 82 61 84 76
Fax: +86 10 82 61 84 76