Resumen
The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.
Informaciones generales
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Estado: RetiradaFecha de publicación: 1993-08Etapa: Retirada de la Norma Internacional [95.99]
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Edición: 1Número de páginas: 3
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Comité Técnico :ISO/TC 171/SC 2ICS :37.080
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PublicadoISO 6342:2003
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