Resumen
ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.
Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 2015-07Etapa: Norma Internacional confirmada [90.93]
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Edición: 1Número de páginas: 20
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Comité Técnico :ISO/TC 172/SC 9ICS :31.020
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