Informations
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Secrétariat: JISC
Manager du comité: -
Président(e) (jusqu'à fin 2024):Ms Laura Depero
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Responsable de programmes techniques ISO [TPM]:Responsable éditorial ISO [EM]:
- Date de création: 2016
Domaine des travaux
Normalisation des méthodes pour la spécification des instruments, de leur étalonnage et de leur fonctionnement, pour l'acquisition, le traitement et l'analyse des données pour l'utilisation de la réflectométrie de rayons X (XRR) et la fluorescence de rayons X (XRF) en analyse de la composition chimique et structurelle des surfaces.
Liens utiles
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Programme technique
Projets de travail et nouveaux projets préliminaires -
Espace de travail
Documents de travail (compte utilisateur nécessaire) -
Applications électroniques ISO
Outils TI pour l'élaboration des normes
Ce comité contribue avec 4 normes auxObjectifs de développement durable suivants :
Comités en liaison depuis le ISO/TC 201/SC 10
ISO/TC 201/SC 10 peut accéder aux documents des Comités ci-dessous :
| Référence | Titre | ISO/CEI |
|---|---|---|
| ISO/TC 147 | Qualité de l'eau | ISO |
| ISO/TC 202 | Analyse par microfaisceaux | ISO |
| ISO/TC 229 | Nanotechnologies | ISO |
ISO/TC 201/SC 10 - Secrétariat
JISC [Japon]
一般社団法人表面化学分析技術標準化委員会
#202 Belcom Tsukuba Building
1-2-3 Ninomiya,
Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japon
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Tsukuba
Ibaraki 305-0051
Japon