Numéro de référence
ISO 4970:1979
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ISO 4970:1979
Acier — Détermination de l'épaisseur totale ou conventionnelle des couches minces durcies superficielles
Edition 1
1979-11
Annulée
Annulée (Edition 1, 1979)

Résumé

Specifies the micrographic method and the microhardness measurement method. Applies to thin surface layers, with thicknesses of less than or equal to 0.3 mm, obtained, for example, by mechanical (shot blasting, shot peening, etc), thermal (flame or induction hardening, etc) or thermochemical (carbonitriding, carburizing and hardening, etc) treatment. It is not applicable to thin surface layer which are not continuous with the basis metal.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 1979-11
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 4
  • Comité technique :
    ISO/TC 17/SC 7
    ICS :
    77.040.99 
  • RSS mises à jour

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