Numéro de référence
ISO 8401:1986
ISO 8401:1986
Revêtements métalliques — Vue d'ensemble sur les méthodes de mesurage de la ductilité
Edition 1
1986-07
Annulée
ISO 8401:1986
15569
Annulée (Edition 1, 1986)

Résumé

1.1 La présente Norme internationale spécifie un certain nombre de méthodes de mesurage de la ductilité de revêtements métalliques de moins de 200 µm d'épaisseur obtenus par déposition électrolytique, déposition autocatalytique ou autre procédé utilisable (voir la note). Les méthodes de mesurage de la ductilité des revêtements métalliques peuvent se ranger en deux grandes catégories :

  • les mesurages sur feuilles détachées de leur substrat;
  • les mesurages sur feuilles avec leur substrat.

NOTE -- Toute méthode d'essai particulière figurant dans les Normes internationales de revêtement doit être utilisée de préférence aux méthodes décrites dans la présente Norme internationale et doit faire l'objet d'un accord préalable entre le fournisseur et le client.

1.2 Dans les mesurages sur feuilles détachées de leur substrat (voir figure 1), les feuilles pouvant être constituées d’une ou plusieurs couches métalliques, il est possible de mesurer la ductilité de la feuille composite et de déterminer l’influence des diverses couches dans la ductilité totale. Les méthodes de mesurage des feuilles détachées de leur substrat sont décrites dans le chapitre 3. Les méthodes de fabrication des feuilles sont étudiées dans l’annexe A.

1.3 Dans les mesurages sur feuilles avec leur substrat (voir figure 2), le plus grand soin doit être apporté à déterminer le point exact d’amorce de fissuration de la couche supérieure.
Différentes méthodes sont utilisables à cet effet, soit a l’oeil nu ou corrigé, soit à l’aide d’une loupe. Ces méthodes peuvent également servir à détecter une fragilisation du substrat qui
peut résulter du mode de revêtement. Les méthodes de mesurage des feuilles sur leur substrat sont décrites dans le chapitre 4.

1.4 Bien que la ductilité soit une propriété du matériau n’ayant rien à voir avec les dimensions des éprouvettes, l ’épaisseur du revêtement peut avoir une influence sur la valeur de l’allongement linéaire (Al/lo).

1.4.1 Les couches trés minces ont des propriétés différentes car le substrat a une influence sur la superposition des premières couches (épitaxie). Ces couches peuvent être le siége de contraintes internes élevées qui peuvent jouer sur la ductilité.

1.4.2 Il est essentiel q ue l’éprouvette ait une épaisseur uniforme, les endroits plus mi nces pouvan t favoriser une fissuration précoce. De même, la densité de courant est plus faible aux endroits minces et plus forte aux endroits épais des éprouvettes à dépôt électrolytique. Ces différences de densité de courant peuvent ainsi donner lieu à des différences de ductilité. La densité de courant doit donc être maintenue aussi uniforme que possible sur toute l’éprouvette et la valeur correspondante doit être notée.

Informations générales

  •  : Annulée
     : 1986-07
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  •  : 1
     : 31
  • ISO/TC 107
    25.220.40 
  • RSS mises à jour

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