ISO 15632:2002
Analyse par microfaisceaux — Spécifications instrumentales pour spectromètres de rayons X à sélection d'énergie avec détecteurs à semi-conducteurs
Numéro de référence
ISO 15632:2002
Edition 1
2002-12
© ISO 2024
Annulée
Annulée (Edition 1, 2002)

Résumé

L'ISO 15632:2002 définit les paramètres les plus importants qui caractérisent un spectromètre de rayons X à sélection d'énergie (EDS) consistant en un détecteur semi-conducteur, un préamplificateur et une unité de traitement des signaux en tant que parties essentielles. Elle s'applique uniquement aux spectromètres ayant des détecteurs semi-conducteurs fonctionnant selon le principe de l'ionisation à l'état solide. Elle définit les exigences minimales pour de tels spectromètres reliés à un microanalyseur à sonde électronique (EPMA) ou à un microscope électronique à balayage (MEB). La réalisation de l'analyse se situe en dehors de la portée de l'ISO 15632:2002.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 2002-12
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 10
  • Comité technique :
    ISO/TC 202
    ICS :
    37.020  71.040.99 
  • RSS mises à jour

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