Résumé
ISO 6342:2003 specifies a method of measuring the thickness of the buildup area on aperture cards (camera and copy cards) for manufacturing and inspection purposes.
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Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2003-07Stade: Norme internationale confirmée [90.93]
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Edition: 2
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Comité technique :ISO/TC 171ICS :37.080
- RSS mises à jour
Cycle de vie
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Précédemment
AnnuléeISO 6342:1993
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