Numéro de référence
ISO 14571:2020
Norme internationale
ISO 14571:2020
Revêtements métalliques sur matériaux non-métalliques — Mesurage de l'épaisseur des revêtements — Méthode utilisant la micro-résistivité
Edition 1
2020-11
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ISO 14571:2020
79417
Publiée (Edition 1, 2020)

ISO 14571:2020

ISO 14571:2020
79417
Langue
Format
CHF 63
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Résumé

Le présent document spécifie une méthode de mesurages non destructifs de l’épaisseur des revêtements conducteurs sur des matériaux de base non conducteurs. Cette méthode repose sur le principe du mesurage de la résistivité d’une plaque et elle est applicable à tous les revêtements conducteurs et couches de métaux et de matériaux semi-conducteurs. En général, le palpeur doit être ajusté à la conductivité et à l’épaisseur de l’application correspondante. Toutefois, le présent document est centré sur les revêtements métalliques appliqués sur des matériaux de base non conducteurs (par exemple, cuivre sur substrats en plastique, cartes de circuits imprimés).

Cette méthode est aussi applicable aux mesurages d’épaisseur des revêtements conducteurs sur des matériaux de base conducteurs, si la résistivité du revêtement et celle du matériau de base sont nettement différentes. Cependant, ce cas n’est pas traité dans le présent document.

Informations générales

  •  : Publiée
     : 2020-11
    : Norme internationale publiée [60.60]
  •  : 1
     : 10
  • ISO/TC 107
    25.220.40 
  • RSS mises à jour

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