Reference number
ISO 17901-2:2015
© ISO 2024
International Standard
ISO 17901-2:2015
Optics and photonics — Holography — Part 2: Methods for measurement of hologram recording characteristics
Edition 1
2015-07
Preview
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2015)
Последний раз этот публикация был пересмотрен в  2020. Поэтому данная версия остается актуальной.

ISO 17901-2:2015

Язык
Формат
CHF 129
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 17901-2:2015 specifies the terms and measurement method concerning exposure characteristics (exposure characteristic curve, exposure at half-maximum, R-value, amplitude of refractive index modulation) for the hologram recorded by double-beam interference. The materials of hologram to be measured are not restricted to any particular ones. ISO 17901-2:2015 does not intend to restrict manufacturing process.

Общая информация

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2015-07
    Этап
    : Подтверждение действия международного стандарта [90.93]
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет :
    ISO/TC 172/SC 9
    ICS :
    31.020 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

9
Индустриализация, инновации и инфраструктура

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. МКС
  5. 31
  6. 31.020
  7. ISO 17901-2:2015